(TNO) Các nhà khoa học Đan Mạch khám phá ra rằng những trẻ sinh non thường bị bệnh võng mạc (ROP) và hư hại não, theo Healthday.
Nghiên cứu được tiến hành từ năm 2004 – 2006 với 178 trẻ sinh non (sinh trước 28 tuần) trước tuổi đến trường và 56 trẻ sinh đủ tháng.
 Ảnh minh họa: Shutterstock |
Các nhà khoa học Đan Mạch cho biết, sự kém thông minh là một dấu hiệu của hư hại não và sự bất thường ở võng mạc là phổ biến ở trong nhóm tham gia nghiên cứu.
Trưởng nhóm nghiên cứu, tiến sĩ Carina Slidsborg thuộc Bệnh viện Trường đại học Copenhagen nói: “Hư hại não và bệnh võng mạc là hai rủi ro độc lập nhau ở trẻ sinh non”.
Nghiên cứu được xuất bản trên tạp chí Archives of Ophthalmology.
Ngọc Lam
